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涡流测厚仪|氧化膜测厚仪TT230图1

涡流测厚仪|氧化膜测厚仪TT230

2015-05-18 10:100询价
价格:未填

本仪器是一种超小型测量仪,它能快速、无损伤、精密地进行非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量。可广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。由于该仪器体积小、测头与仪器一体化,特别适用于工程现场测量。
本仪器符合以下标准:
GB/T 4957
1985 非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量 涡流方法
JB/T 8393
1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪
JJG 818
93 《电涡流式测厚仪》

技术参数:

测头类型

N

测量原理

电涡流

测量范围

0-1250um/0-40um(铜上镀铬)

低限分辨力

1μm(10um以下为0.1um)

探头连接方式

一体化

示值误差

一点校准(um)

±[3%H+1.5]

两点校准(um)

±[1%~3%H+1.5]

测量条件

最小曲率半径(mm)

3 10

基体最小面积的直径(mm)

ф5

最小临界厚度(mm)

0.3

温湿度

0~40
20%RH
90%RH

统计功能

平均值(MEAN)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、
测试次数(NO.)、标准偏差(SDEV

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